ifia2011 企業出展およびセミナーのご案内

日程: 2011年5月18日(水)~20日(金)
会場: 東京ビッグサイト 西1・2ホール
展示製品:
1次元2次元切替GC-MS (特許登録済)

DHS-MPS2xt-ODP

食品・飲料における「におい分析」で、大変注目を集めています。

●1次元GC-MSと2次元GC-MSの切替が1台のGC-MSのメソッド変更のみで可能
●2次元GC-MSにおける1次元目の「モニターTIC」を実現

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セミナー:
5月19日(木) 13:00~13:20 / 会場: 味の提案ゾーンセッション
『匂い分析決定版 前処理からデータ解析までGC-MS分析必勝ソリューション』
匂い嗅ぎGC-MSだけでは難しい"高マトリックス中の微量成分"や"未知成分"のための試料前処理/導入技術と多次元GC分取+加熱脱着GC-MS,1次元2次元切替GC-MS+同時検出,香気成分データベースAromaOffice2Dなど、前処理からデータ解析までの匂い分析のトータルソリューションをご紹介します。 (主催社セミナー)

5月19日 14:15~14:45 / 会場: プレゼンテーション ROOM 1
『匂い分析決定版 前処理からデータ解析までGC-MS分析必勝ソリューション』
匂い嗅ぎGC-MSだけでは難しい"高マトリックス中の微量成分"や"未知成分"のための試料前処理/導入技術と多次元GC分取+加熱脱着GC-MS,1次元2次元切替GC-MS+同時検出,香気成分データベースAromaOffice2Dなど、前処理からデータ解析までの匂い分析のトータルソリューションをご紹介します。 (出展社セミナー、アジレント・テクノロジーになっておりますが、演者はゲステルKK社員となります)

上記2つのセミナーは、ほぼ同じ内容となります。

ifia 2011ホームページ
http://www.ifiajapan.com/2011/jp/index.html(外部サイトへリンクします)

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